Le groupe de travail ECPE AQG 324 créé en juin 2017 travaille sur une ligne directrice européenne de qualification pour les modules de puissance destinés à être utilisés dans les unités de conversion électronique de puissance dans les véhicules automobiles.
Basée sur l'ancienne norme allemande LV 324 (« Qualification des modules d'électronique de puissance destinés à être utilisés dans des composants de véhicules automobiles - Exigences générales, conditions d'essai et tests »), la directive ECPE définit une procédure commune pour caractériser les tests de modules ainsi que pour les tests environnementaux et de durée de vie des modules électroniques de puissance pour applications automobiles.
La ligne directrice a été publiée par le groupe de travail industriel responsable composé d'entreprises membres de l'ECPE et de plus de 30 représentants de l'industrie de la chaîne d'approvisionnement automobile.
La version actuelle de l'AQG 324, datée du 12 avril 2018, se concentre sur les modules de puissance à base de Si, les futures versions qui seront publiées par le groupe de travail couvriront également les nouveaux semi-conducteurs de puissance à large bande interdite SiC et GaN.
En interprétant en profondeur l'AQG324 et les normes associées de l'équipe d'experts, GRGT a établi les capacités techniques de vérification des modules de puissance, fournissant des rapports d'inspection et de vérification AQG324 faisant autorité pour les entreprises en amont et en aval de l'industrie des semi-conducteurs de puissance.
Modules de dispositifs de puissance et produits de conception spéciale équivalents basés sur des dispositifs discrets
● DINENISO/IEC17025:Exigences générales relatives à la compétence des laboratoires d'essais et d'étalonnage
● CEI 60747 : dispositifs à semi-conducteurs, dispositifs discrets
● CEI 60749 : Dispositifs à semi-conducteurs ‒ Méthodes d'essais mécaniques et climatiques
● DIN EN 60664 : Coordination de l'isolation des équipements dans les systèmes basse tension
● DINEN60069 : tests environnementaux
● JESD22-A119:2009:Durée de conservation à basse température
Type d'essai | Articles de test |
Détection de modules | Paramètres statiques, paramètres dynamiques, détection de couche de connexion (SAM), IPI/VI, OMA |
Test caractéristique du module | Inductance parasite, résistance thermique, tenue aux courts-circuits, test d'isolation, détection des paramètres mécaniques |
Essai environnemental | Choc thermique, vibration mécanique, choc mécanique |
Test de vie | Cyclage d'alimentation (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, polarisation de grille dynamique, polarisation inverse dynamique, H3TRB dynamique, dégradation bipolaire de la diode corporelle |