Certification des dispositifs d'alimentation AQG324
Présentation du service
Le groupe de travail AQG 324 de l'ECPE, créé en juin 2017, travaille sur une ligne directrice européenne de qualification pour les modules de puissance destinés à être utilisés dans les unités de conversion d'électronique de puissance des véhicules automobiles.
Basée sur l'ancienne norme allemande LV 324 (« Qualification des modules électroniques de puissance destinés à être utilisés dans les composants des véhicules automobiles - Exigences générales, conditions d'essai et tests »), la directive ECPE définit une procédure commune pour la caractérisation des tests de modules ainsi que pour les tests environnementaux et de durée de vie des modules électroniques de puissance destinés aux applications automobiles.
La directive a été publiée par le groupe de travail industriel responsable, composé d'entreprises membres de l'ECPE et de plus de 30 représentants de l'industrie de la chaîne d'approvisionnement automobile.
La version actuelle de l'AQG 324 datée du 12 avril 2018 se concentre sur les modules de puissance à base de Si, tandis que les futures versions qui seront publiées par le groupe de travail couvriront également les nouveaux semi-conducteurs de puissance à large bande interdite SiC et GaN.
En interprétant en profondeur l'AQG324 et les normes associées par une équipe d'experts, GRGT a établi les capacités techniques de vérification des modules de puissance, fournissant des rapports d'inspection et de vérification AQG324 faisant autorité pour les entreprises en amont et en aval de l'industrie des semi-conducteurs de puissance.
Portée du service
Modules de dispositifs de puissance et produits de conception spéciale équivalents basés sur des dispositifs discrets
Normes de test
● DINENISO/IEC17025 : Exigences générales relatives à la compétence des laboratoires d'essais et d'étalonnage
● IEC 60747 : Dispositifs à semi-conducteurs, dispositifs discrets
● IEC 60749 : Dispositifs à semi-conducteurs ‒ Méthodes d'essai mécaniques et climatiques
● DIN EN 60664 : Coordination de l'isolation des équipements dans les systèmes basse tension
● DINEN60069 : Essais environnementaux
● JESD22-A119:2009 : Durée de stockage à basse température
Éléments de test
| Type de test | Éléments de test |
| Détection de module | Paramètres statiques, paramètres dynamiques, détection de la couche de connexion (SAM), IPI/VI, OMA |
| Test des caractéristiques du module | Inductance parasite parasite, résistance thermique, tenue aux courts-circuits, test d'isolation, détection de paramètres mécaniques |
| Test environnemental | Choc thermique, vibration mécanique, choc mécanique |
| Test de vie | Cycle d'alimentation (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, polarisation de grille dynamique, polarisation inverse dynamique, H3TRB dynamique, dégradation bipolaire de la diode de corps |
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