Analyse de la microstructure et évaluation des matériaux semi-conducteurs
Présentation du service
Avec le développement continu des circuits intégrés à grande échelle, le processus de fabrication des puces devient de plus en plus complexe, et la microstructure et la composition anormales des matériaux semi-conducteurs entravent l'amélioration du rendement des puces, ce qui pose de grands défis à la mise en œuvre de nouveaux semi-conducteurs et intégrés. technologies de circuits.
GRGTEST fournit une analyse et une évaluation complètes de la microstructure des matériaux semi-conducteurs pour aider les clients à améliorer les processus de semi-conducteurs et de circuits intégrés, y compris la préparation du profil au niveau des tranches et l'analyse électronique, l'analyse complète des propriétés physiques et chimiques des matériaux liés à la fabrication des semi-conducteurs, la formulation et la mise en œuvre de l'analyse des contaminants des matériaux semi-conducteurs. programme.
Portée du service
Matériaux semi-conducteurs, matériaux organiques à petites molécules, matériaux polymères, matériaux hybrides organiques/inorganiques, matériaux inorganiques non métalliques
Programme de services
1. La préparation du profil de la tranche de puce et l'analyse électronique, basées sur la technologie de faisceau d'ions focalisé (DB-FIB), la découpe précise de la zone locale de la puce et l'imagerie électronique en temps réel, peuvent obtenir la structure, la composition et autres profils de la puce. informations importantes sur le processus ;
2. Analyse complète des propriétés physiques et chimiques des matériaux de fabrication de semi-conducteurs, y compris les matériaux polymères organiques, les matériaux à petites molécules, l'analyse de la composition des matériaux inorganiques non métalliques, l'analyse de la structure moléculaire, etc.
3. Formulation et mise en œuvre d'un plan d'analyse des contaminants pour les matériaux semi-conducteurs.Il peut aider les clients à comprendre pleinement les caractéristiques physiques et chimiques des polluants, notamment : l'analyse de la composition chimique, l'analyse du contenu des composants, l'analyse de la structure moléculaire et d'autres analyses des caractéristiques physiques et chimiques.
Articles de service
| Servicetaper | Servicearticles |
| Analyse de la composition élémentaire des matériaux semi-conducteurs | l Analyse élémentaire EDS, l Analyse élémentaire par spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS) |
| Analyse de la structure moléculaire des matériaux semi-conducteurs | l Analyse du spectre infrarouge FT-IR, l Analyse spectroscopique par diffraction des rayons X (DRX), l Analyse pop par résonance magnétique nucléaire (H1NMR, C13NMR) |
| Analyse de la microstructure des matériaux semi-conducteurs | l Analyse de tranches à double faisceau d'ions focalisé (DBFIB), l La microscopie électronique à balayage à émission de champ (FESEM) a été utilisée pour mesurer et observer la morphologie microscopique, l Microscopie à force atomique (AFM) pour l'observation de la morphologie des surfaces |
